Zobrazeno 1 - 10
of 404
pro vyhledávání: '"M. Nicolescu"'
Publikováno v:
Journal of Research and Innovation for Sustainable Society, Vol 1, Iss 2, Pp 60-69 (2019)
The paper presents the conditions, objectives and stages necessary to implement an ISO 14001Environmental Management System in a company for computers and electronic devices repairing. Implementing ISO 14001 standard establishes a set of rules for
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/b4e3533bb44b4ebd94a0bcd4e1d846ac
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Sol-Gel Science and Technology. 98:1-23
Spectroscopic ellipsometry (SE) with its fast, precise, non-destructive and non-contact nature, working both ex situ and in situ, is the ideal characterization tool for thin films in terms of optical, struactural and electrical information obtained o
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::19e59e6fab4a8551f218cc3ef3c9f93a
https://doi.org/10.1007/s10971-021-05504-2
https://doi.org/10.1007/s10971-021-05504-2
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
M. Nicolescu, Jose M. Calderon-Moreno, Mariuca Gartner, Mihai Anastasescu, Nicoleta Dulgheru, Ioana Stanculescu, A. Szekeres, Mihai Stoica, Irina Atkinson, H. Stroescu
Publikováno v:
Materials Research Bulletin. 106:234-242
Thin films from two glassy systems of GexSb40-xS50Te10 and GexAs40-xS50Te10, with compositions x = 10, 20 and 27 at. %, were deposited on optical glass substrates by vacuum thermal evaporation of powdered parent chalcogenide glasses. The complex refr
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::f7ae0133e22139c456477a9bcb8a2e73
https://doi.org/10.1016/j.materresbull.2018.06.013
https://doi.org/10.1016/j.materresbull.2018.06.013
Autor:
Ioana Stanculescu, N. Dulgheru, Irina Atkinson, H. Stroescu, M. Nicolescu, M. Stoica, Mariuca Gartner, Veronica Bratan, Margit Fábián, A. Szekeres, Mihai Anastasescu, P. Terziyska
Publikováno v:
Infrared Physics & Technology. 93:260-270
Thin films of GexSb40-xSe60 (x = 15, 20, 25, 27, 32 and 35 at.%) were deposited on quartz by vacuum thermal evaporation of the pre-synthesized parental glasses powders. By spectroscopic ellipsometry the complex refractive index values are determined
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::df42467b8fd4107af2fef47ed1b97f89
https://doi.org/10.1016/j.infrared.2018.08.008
https://doi.org/10.1016/j.infrared.2018.08.008
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.