Zobrazeno 1 - 10
of 50
pro vyhledávání: '"M. Nasuno"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Crohn's and Colitis. 13:S422-S423
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::78bfd34099b0311bfb78198608f034b9
https://doi.org/10.1093/ecco-jcc/jjy222.736
https://doi.org/10.1093/ecco-jcc/jjy222.736
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
T. Tanuma, Akiko Shiotani, M. Ishii, Masanori Nojima, R. Suzuki, Satoshi Motoya, M. Miyakawa, R. Sakemi, M. Nasuno, F. Itoh, Hiroshi Nakase, M. Yamashita, S. So, H. Kaneto, Hiroki Tanaka, H. Yanagisawa, Kei Onodera
Publikováno v:
Journal of Crohn's and Colitis. 11:S420-S421
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::673f9ec144f4cc0b2c349fe14ce6a5ad
https://doi.org/10.1093/ecco-jcc/jjx002.790
https://doi.org/10.1093/ecco-jcc/jjx002.790
Autor:
K Sugiyama, Hiroki Tanaka, M. Miyakawa, Tomoya Iida, Kei Onodera, M. Nasuno, Satoshi Motoya, Hiroshi Nakase
Publikováno v:
Journal of Crohn's and Colitis. 11:S367-S368
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::9a27eaf11f4315b24c3bfffdea93dc18
https://doi.org/10.1093/ecco-jcc/jjx002.688
https://doi.org/10.1093/ecco-jcc/jjx002.688
Publikováno v:
Journal of Crohn's and Colitis. 12:S314-S314
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::d4d1892380dab8f9e31e7ad6e1010fc2
https://doi.org/10.1093/ecco-jcc/jjx180.542
https://doi.org/10.1093/ecco-jcc/jjx180.542
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Nobuo Ohtsuka, Saburo Takamiya, Kouichi Iiyama, Koichi Higashimine, Y. Ohta, Y. Kita, M. Nasuno
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices. 49:1856-1862
金沢大学工学部
A gate insulating layer with single nm-order thickness for suppressing gate leakage current is one of the key factors in extending downsizing limits, based upon the scaling rule, of field-effect-type transistors. We describ
A gate insulating layer with single nm-order thickness for suppressing gate leakage current is one of the key factors in extending downsizing limits, based upon the scaling rule, of field-effect-type transistors. We describ
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::ad9fd834b2cacd78f012f4420be8a7a8
https://doi.org/10.1109/ted.2002.804720
https://doi.org/10.1109/ted.2002.804720