Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"M. Mehlous"'
Autor:
Hakim Tahi, Slimane Oussalah, A. Mokrani, R. Yefsah, B. Mansouri, Boualem Djezzar, A. Smatti, M. Benabdelmoumen, M. Mehlous
Publikováno v:
2008 IEEE International Conference on Semiconductor Electronics.
The OTCP extraction method is compared to C-V one for two radiation doses, 500 Krad and 1Mrad. It is shown that the radiation induced oxide-trap (DeltaNot) obtained by OTCP are in excellent agreement with DeltaNot extracted using C-V. However, for in
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::de0454197df2d05f0755d2d485bdda48
https://doi.org/10.1109/smelec.2008.4770368
https://doi.org/10.1109/smelec.2008.4770368
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Benabdelmoumene, Abdelmadjid, Djezzar, Boualem, Tahi, Hakim, Chenouf, Amel, Trombetta, Leonard, Kechouane, Mohamed
Publikováno v:
2012 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report; 1/ 1/2012, p175-178, 4p
Publikováno v:
IEEE Transactions on Device & Materials Reliability; Mar2010, Vol. 10 Issue 1, p108-115, 8p