Zobrazeno 1 - 10
of 23
pro vyhledávání: '"M. Lesiecki"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
J. Lawniczak, E. Geiser, T. Hammer, A. Bothe, N. Meaux, B. Allbee, M. Lesiecki, B. Vandenberg, Nicholas R. Silvaggi, D. Blank, J. Wankowski, I. Kalmer, E. Zeitlow, Karen Tiffany, Kathryn Tiffany, S. Dyke, N. Britt, J. Temmer, J. Bolgert, E. Janecek, M. Marshall, A. Butt, N. Anderson, J. Levy, M. Ruzicka
Publikováno v:
The FASEB Journal. 28
According to the World Health Organization, pneumonia is the leading cause of death in children worldwide, and infection of lung tissue by Streptococcus pneumonia causes the bulk of bacterial pneum...
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::e751c35c1a5f64ed22686da49c8a084a
https://doi.org/10.1096/fasebj.28.1_supplement.lb111
https://doi.org/10.1096/fasebj.28.1_supplement.lb111
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
B. Simington, M. Lesiecki
Publikováno v:
2004 IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop (IEEE Cat. No.04CH37530).
American industry has reached the highest level of productivity in its history in recent months and much of this increase can be attributed to the increased reliance on automation in the workplace. Over the past several years Intel, MATEC, and SMC In
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::49b5c6cce565901b22e379be28df3596
https://doi.org/10.1109/asmc.2004.1309603
https://doi.org/10.1109/asmc.2004.1309603
Publikováno v:
Proceedings of the 15th Biennial University/Government/ Industry Microelectronics Symposium (Cat. No.03CH37488).
High school students are frequently unable to associate fundamental math and science curricular materials with the operation of the numerous high technology components that they encounter on a daily basis. We present a new approach to adapt and incor
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::ea4801e1ef7ca7b1d71c8e702b54a688
https://doi.org/10.1109/ugim.2003.1225722
https://doi.org/10.1109/ugim.2003.1225722
Autor:
B. Simington, M. Lesiecki
Publikováno v:
13th Annual IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference. Advancing the Science and Technology of Semiconductor Manufacturing. ASMC 2002 (Cat. No.02CH37259).
Skill Standards are quality standards applied to people. In this project the goal was to develop a skill standards document that identifies the standards in terms of expected behavior, the condition and the standard for performance for technicians wo
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::4a6cb68ecdb7913a706f48b1bf4f0aca
https://doi.org/10.1109/asmc.2002.1001610
https://doi.org/10.1109/asmc.2002.1001610
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.