Zobrazeno 1 - 10
of 536
pro vyhledávání: '"M. Kneissl"'
Autor:
G. Naresh-Kumar, A. Vilalta-Clemente, S. Pandey, D. Skuridina, H. Behmenburg, P. Gamarra, G. Patriarche, I. Vickridge, M. A. di Forte-Poisson, P. Vogt, M. Kneissl, M. Morales, P. Ruterana, A. Cavallini, D. Cavalcoli, C. Giesen, M. Heuken, C. Trager-Cowan
Publikováno v:
AIP Advances, Vol 4, Iss 12, Pp 127101-127101-13 (2014)
We report on our multi–pronged approach to understand the structural and electrical properties of an InAl(Ga)N(33nm barrier)/Al(Ga)N(1nm interlayer)/GaN(3μm)/ AlN(100nm)/Al2O3 high electron mobility transistor (HEMT) heterostructure grown by metal
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/9a46295aa3e341238236b26840a9191f
Publikováno v:
Polymers, Vol 16, Iss 16, p 2310 (2024)
Polyoxymethylene (POM), an engineering polymer commonly used in tribological applications, is often reinforced with fossil-based fibers such as carbon and/or glass fibers to improve its properties. To find more sustainable solutions, in this study, t
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/c81c669154ad4d4d96b1f520a2e2609e
Publikováno v:
Polymer Testing, Vol 128, Iss , Pp 108234- (2023)
Natural fibers are promising bio-based materials to use as reinforcements in polymer composites as often more affordable and accessible alternatives to fossil-based fibers, especially because of their superior sustainability. Polyoxymethylene (POM) i
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/1f7377861e8641109e5c78b857f4c851
Autor:
F. Piva, M. Pilati, M. Buffolo, N. Roccato, N. Susilo, D. Hauer Vidal, A. Muhin, L. Sulmoni, T. Wernicke, M. Kneissl, C. De Santi, G. Meneghesso, E. Zanoni, M. Meneghini
The lifetime of deep-ultraviolet light-emitting diodes (LEDs) is still limited by a number of factors, which are mainly related to semiconductor defects, and still need to be clarified. This paper improves the understanding of UV LED degradation, by
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::825b0e029dd89752aafdeccb29e27c2c
https://hdl.handle.net/11577/3479807
https://hdl.handle.net/11577/3479807
Autor:
G. Hofmann, J. Hopfner, M. Schilling, A. Muhin, F. Romer, T. Wernicke, M. Kneissl, B. Witzigmann
Publikováno v:
2022 International Conference on Numerical Simulation of Optoelectronic Devices (NUSOD).
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c3026e0778621e8a08cadeffc5ce49aa
https://doi.org/10.1109/nusod54938.2022.9894749
https://doi.org/10.1109/nusod54938.2022.9894749
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
F. Piva, M. Grigoletto, R. Brescancin, C. De Santi, M. Buffolo, J. Ruschel, J. Glaab, D. Hauer Vidal, M. Guttmann, J. Rass, S. Einfeldt, N. Susilo, T. Wernicke, M. Kneissl, G. Meneghesso, E. Zanoni, M. Meneghini
Publikováno v:
Applied Physics Letters. 122:151108
We investigate the impact of Mg-doping on the performance and degradation kinetics of AlGaN-based UV-C light-emitting diodes (LEDs). By comparing LEDs from three wafers with different nominal doping levels [Mg/(Al+Ga) ratio: 0.15%, 0.5%, and 1% in th
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::ce06f04665726772ab8fc1c551acc009
https://doi.org/10.1063/5.0142054
https://doi.org/10.1063/5.0142054
Autor:
A. Knauer, T. Kolbe, S. Hagedorn, J. Hoepfner, M. Guttmann, H. K. Cho, J. Rass, J. Ruschel, S. Einfeldt, M. Kneissl, M. Weyers
Publikováno v:
Applied Physics Letters. 122:011102
High temperature annealed AlN/sapphire templates exhibit a reduced in-plane lattice constant compared to conventional non-annealed AlN/sapphire grown by metalorganic vapor phase epitaxy (MOVPE). This leads to additional lattice mismatch between the t
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::f1c451b4b6ba19b0d992895f15abf5d8
https://doi.org/10.1063/5.0134253
https://doi.org/10.1063/5.0134253