Zobrazeno 1 - 10
of 247
pro vyhledávání: '"M. Kahrizi"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Fundamental Theory and Applications. 49:1263-1270
This paper describes an efficient and robust approach for the computer diagnosis and tuning of RF and microwave filters relying upon model-based parameter estimation (MBPE) and multilevel optimization. The frequency sampled S-parameters are obtained
Publikováno v:
Journal of The Electrochemical Society. 145:2944-2950
Negative- and positive-point corona discharge oxidation processes (anodic and cathodic cases, respectively), result in markedly different oxide thickness profiles. In the cathodic case, the enhancement varies in a complex manner over the entire wafer
Publikováno v:
Journal of The Electrochemical Society. 145:2937-2943
A negative-point (anodic) corona discharge is used to grow thin SiO 2 films at low temperatures (600-800°C), at dramatically enhanced oxidation rates. Electrical tests show that oxide and interface charges are comparable to thermal oxides. Breakdown