Zobrazeno 1 - 10
of 587
pro vyhledávání: '"M. KOHYAMA"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Y. OHNO, K. INOUE, K. FUJIWARA, K. KUTSUKAKE, M. DEURA, I. YONENAGA, N. EBISAWA, Y. SHIMIZU, Y. NAGAI, H. YOSHIDA, S. TAKEDA, S. TANAKA, M. KOHYAMA
Publikováno v:
Journal of Microscopy. 268:230-238
Summary We have developed an analytical method to determine the segregation levels on the same tilt boundaries (TBs) at the same nanoscopic location by a joint use of atom probe tomography and scanning transmission electron microscopy, and discussed
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
M. Kohyama, J. Hoekstra
Publikováno v:
Physical Review B. 61:2672-2679
Ab initio pseudopotential calculations of the \ensuremath{\beta}-SiC(001)/Ti interface have been performed, and are compared with our preceding results of the SiC(001)/Al interface [Phys. Rev. B 57, 2334 (1998)]. The C-terminated and Si-terminated in
Autor:
Seiji Takeda, M. Kohyama
Publikováno v:
Physical Review B. 60:8075-8080