Zobrazeno 1 - 10
of 75
pro vyhledávání: '"M. Iwatake"'
Autor:
Y. Tanoue, T. Tsuchiya, M. Iwatake, T. Miyazaki, H. Watanabe, H. Yukawa, K. Sato, G. Hatachi, K. Shimoyama, K. Matsumoto, R. Doi, K. Tomoshige, T. Nagayasu
Publikováno v:
D101. HOST DEFENSES AND IMMUNE CELLS.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::aa9d4ec1a4b723f7066a1d0e35ba93c4
https://doi.org/10.1164/ajrccm-conference.2023.207.1_meetingabstracts.a6626
https://doi.org/10.1164/ajrccm-conference.2023.207.1_meetingabstracts.a6626
Publikováno v:
B107. COPD: FROM OMICS TO TREATMENT.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::a41c8e1fbde4b6be874f49513a3c4588
https://doi.org/10.1164/ajrccm-conference.2023.207.1_meetingabstracts.a4395
https://doi.org/10.1164/ajrccm-conference.2023.207.1_meetingabstracts.a4395
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
K. Toole, N. Arnold, L. Tierney, M. Iwatake, N. Li, James J. Demarest, James Chingwei Li, K. Cheng, O. Ogundipe, K. Brew, Victor Chan, R. Pujari, A. Gasasira
Publikováno v:
International Symposium for Testing and Failure Analysis.
In this work, we investigate mushroom type phase-change material (PCM) memory cells based on Ge2Sb2Te5. We use low-angle annular dark field (LAADF) STEM imaging and energy dispersive X-ray spectroscopy (EDX) to study changes in microstructure and ele
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::468a6dea9545615f7d7ecaf8b4b96cb6
https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2021p0206
https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2021p0206
Autor:
N. Arnold, M. Iwatake, I. Ok, James Chingwei Li, L. Tierney, Saraf Iqbal Rashid, Nicole Saulnier, T. Gordon, G. Lian, Victor Chan, A. Cote, S. McDermott, Kevin W. Brew, James J. Demarest, A. Varghese
Publikováno v:
International Symposium for Testing and Failure Analysis.
There are several variants of artificial intelligence (AI) hardware structures that are under study by the semiconductor industry for potential use in complementary metal–oxide–semiconductor (CMOS) designs. This paper discusses some of the failur
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::ce06fed307adcc6280c3f14efc8fd180
https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2021p0034
https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2021p0034
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Virat Mehta, Devika Sil, V. Katragadda, E. R. Evarts, J. DeBrosse, Sanjay Mehta, Richard G. Southwick, C. Long, Abraham Arceo, Dominik Metzler, Theodorus E. Standaert, A. Gasasira, C.-C. Yang, Son Nguyen, Raghuveer R. Patlolla, P. Nieves, D. Houssameddine, E. R. J. Edwards, V. Pai, Thomas M. Maffitt, Daniel C. Worledge, Michael Rizzolo, James Chingwei Li, O. van der Straten, J. Fullam, J. Morillo, Yaocheng Liu, Heng Wu, R. Johnson, Chu Isabel Cristina, J. M. Slaughter, T. Levin, S. McDermott, R. Pujari, Guohan Hu, James J. Demarest, Daniel C. Edelstein, Ashim Dutta, Yutaka Nakamura, M. Iwatake, M.R. Wordeman
Publikováno v:
2020 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM).
We present the first Embedded Spin-Transfer-Torque MRAM (eMRAM) technology in a 14 nm CMOS node. A novel integration supports the highest eMRAM density (0.0273 um2 cell size), optimal magnetic tunnel junction (MTJ) placement between M1-M2 for perform
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7bd1db9bbbe44a73b965abe369e8b585
https://doi.org/10.1109/iedm13553.2020.9371922
https://doi.org/10.1109/iedm13553.2020.9371922
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.