Zobrazeno 1 - 10
of 24
pro vyhledávání: '"M. Gruetzner"'
Publikováno v:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. 10:260-265
An algorithm, ALG-MK, for computing exact aliasing probabilities in signature analysis is derived from a Markov process model of signature analysis. A previous algorithm, ALG-BL, which was derived from a Boolean expressions formulation of the problem
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::07acf2e993d96a04fad06102cacd54b5
https://doi.org/10.1109/43.68413
https://doi.org/10.1109/43.68413
Autor:
M. Gruetzner, H. Grabinski
Publikováno v:
[1989] Proceedings International Conference on Wafer Scale Integration.
Different fault mechanisms in interconnect systems are considered, and their fault behavior is discussed. To diagnose these faults by a digital test, special features of test pattern choice and design modifications are proposed. In contrast with exis
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::ac4fc05afdc40269b27aa5b0cc949106
https://doi.org/10.1109/wafer.1989.47565
https://doi.org/10.1109/wafer.1989.47565
Autor:
M. Gruetzner
Publikováno v:
ITC
A novel test approach for interconnects of laser configurable wafer-scale integration (WSI) systems is described. In this approach, buses are terminated by registers-called Echoregisters-which receive and reflect test signals. The test is carried out
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::510e8dd84935e18e33d3d20cf901c23a
https://doi.org/10.1109/test.1988.207792
https://doi.org/10.1109/test.1988.207792
Autor:
M. Gruetzner, C.W. Starke
Publikováno v:
Proceedings ETC 93 Third European Test Conference.
Three different approaches for LFSR based biased random pattern generation are presented. They can be mapped into custom-made finite state machines satisfying the requirements for BIST. The first approach chooses patterns with constant weights for al
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::5a9753121ed671c109a19bb27951ff8c
https://doi.org/10.1109/etc.1993.246584
https://doi.org/10.1109/etc.1993.246584
Publikováno v:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. 7:75-83
Aliasing errors in linear feedback shift registers (LFSRs) used as signature analysis registers in self-testing networks are considered. A bound on aliasing is established by a straightforward algebraic analysis of LFSRs. It is calculated as a functi
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::063a66021de26641e7e98dfc2c474d67
https://doi.org/10.1109/43.3132
https://doi.org/10.1109/43.3132
Publikováno v:
IEEE Design & Test of Computers. 4:39-45
The authors discuss aliasing errors in signature analysis registers for self-testing networks and review analytical results. The results show that when p, the probability that an error will occur at a network output, is close to 1/2, there is a bound
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::088a1c019d08a85a5fcef51fb17b04a3
https://doi.org/10.1109/mdt.1987.295105
https://doi.org/10.1109/mdt.1987.295105
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.