Zobrazeno 1 - 4
of 4
pro vyhledávání: '"M. Arias de López"'
Autor:
M. Arias de López, S. Medrano, Ricardo Delgado, Paula Suárez, R.W.H.M. van Tol, Charles Staver, L. Sanchez, U. Vegas, Julio C. Rojas, A. Paulino, D. Alburqueque, R.E. Corozo-Ayovi, L. Clercx, B. Osorio, D. Rengifo, D. Moyón
Publikováno v:
Acta Horticulturae 1272 (2020)
Acta Horticulturae, 1272, 153-161
Acta Horticulturae, 1272, 153-161
Since 2010, red rust thrips (RRT) have become a serious pest in organic export banana plantations, causing yield losses of 30-40%. Although RRT blemishes on banana peel are only cosmetic, exporters apply zero tolerance. During 2014-2017, FONTAGRO co-
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::5541b9453fed2174fa5f373fc3d4ad0a
https://research.wur.nl/en/publications/red-rust-thrips-in-smallholder-organic-export-banana-in-latin-ame
https://research.wur.nl/en/publications/red-rust-thrips-in-smallholder-organic-export-banana-in-latin-ame
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Nagoshi RN; Center for Medical, Agricultural and Veterinary Entomology, United States Department of Agriculture-Agricultural Research Service, Gainesville, Florida, United States of America., Cañarte E; National Institute of Agriculture Research (INIAP), Quito, Ecuador., Navarrete B; National Institute of Agriculture Research (INIAP), Quito, Ecuador., Pico J; National Institute of Agriculture Research (INIAP), Quito, Ecuador., Bravo C; National Institute of Agriculture Research (INIAP), Quito, Ecuador., Arias de López M; Research Consultant, Guayaquil, Ecuador., Garcés-Carrera S; National Institute of Agriculture Research (INIAP), Quito, Ecuador.
Publikováno v:
PloS one [PLoS One] 2020 Aug 03; Vol. 15 (8), pp. e0236759. Date of Electronic Publication: 2020 Aug 03 (Print Publication: 2020).
