Zobrazeno 1 - 2 of 2 pro vyhledávání: '"Lyubovin, N."'
1
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
2
Akademický článek
Atomic force microscopy study of the degradation mechanism of ultrathin HfO2 layers on silicon during vacuum annealing.
Autor: Baturin, A., Zenkevich, A., Lebedinskii, Yu., Lyubovin, N., Nevolin, V., Sheshin, E.
Publikováno v: Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron & Neutron Techniques; Feb2007, Vol. 1 Issue 1, p84-89, 6p
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje