Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"Luza, Lucas Matana"'
Autor:
Santos, Douglas Almeida, Luza, Lucas Matana, Dilillo, Luigi, Zeferino, Cesar Albenes, Melo, Douglas Rossi
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability October 2021 125
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2022 IEEE European Test Symposium (ETS)
Studying the radiation effects on electronic devices is essential for avionics and space systems. The shrinking technology nodes and increasing density of devices enhance the sensitivity of electronic systems to ionizing radiation. Due to their cruci
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::43bae7193142c978a4c5ad74db1846e9
https://zenodo.org/record/7541170
https://zenodo.org/record/7541170
Autor:
Luza, Lucas Matana, Imianosky, Carolina, De Mattos, André Martins Pio, Santos, Douglas Almeida Dos, Söderström, Daniel, Dilillo, Luigi
This work targets the study of the effects of high-energy protons on a commercial self-refresh DRAM. The memory devices under investigation were exposed to high-energy protons varying in a range from 70 MeV up to 230 MeV at the Proton Irradiation Fac
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::9bf05048dc22a77623676d10647a5ca4
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.