Zobrazeno 1 - 10
of 1 684
pro vyhledávání: '"Lutz, J. A."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2023 150
Autor:
Mysore, M.L., Maitra, A., Basler, T., Lutz, J., Baburske, R., Niedernostheide, F.-J., Schulze, H.-J., Pfirsch, F.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2023 150
Autor:
Tieken, I., Haasnoot, G., van Meel, M., Rump, L.C., Rosenkranz, A., Horn, S., Margreiter, R., Schneeberger, S., Oberbauer, R., Pohanka, E., Függer, F., Mühlbacher, F., Berlakovich, G., Meurisse, M., Weekers, L., Ysebaert, D., Wissing, K.M., Mikhalski, D., Mourad, M., van Biesen, W., Kuypers, D., Floege, J., Anthuber, M., Viebahn, R., Schenker, P., Budde, K., Pratschke, J., Zidek, W., Melchior, S., Woitas, R., Strassburg, C.H., Hugo, C., Wirth, M., Schiffer, M., Kribben, A., Pisarski, P., Fichtner-Feigl, S., Haubitz, M., Weimer, R., Weithofer, P., Fornara, P., Fisher, L., Sester, U., Zeier, M., Kliem, V., Klempnauer, l, Grimm, M.O., Kunzendorf, U., Stippel, D., Arns, W., Mönch, C., Nitschke, M., Bartels, M., Krämer, B., Kruger, B., Heemann, U., Werner, J., Hoyer, J., Wolters, H.H., Suwelack, B., Lutz, J., Banas, B., Hakenberg, O., Olbricht, C.J., Kalus, M., Schwenger, V., Nadalin, S., Schröppel, B., Lopau, K., Seelen, M.A.J., Berger, S.P., de Fijter, J.W., van der Linden, S.J., Christiaans, M.H.L., van de Wetering, J., van Zuilen, A.D., Bemelman, F., Nurmohamed, A., Hilbrands, L., de Fijter, Johan, Dreyer, Geertje, Mallat, Marko, Budde, Klemens, Pratschke, Johann, Klempnauer, Jürgen, Zeier, Martin, Arns, Wolfgang, Hugo, Christian, Rump, Lars-Christian, Hauser, Ingeborg, Schenker, Peter, Schiffer, Mario, Grimm, Marc-Oliver, Kliem, Volker, Olbricht, Christoph J., Pisarski, Przemyslaw, Banas, Bernhard, Suwelack, Barbara, Hakenberg, Oliver, Berlakovich, Gabriela, Schneeberger, Stefan, van de Wetering, Jacqueline, Berger, Stefan, Bemelman, Frederike, Kuypers, Dirk, Heidt, Sebastiaan, Rahmel, Axel, Claas, Frans, Peeters, Patrick, Oberbauer, Rainer, Heemann, Uwe, Krämer, Bernhard K.
Publikováno v:
In Kidney International September 2023 104(3):552-561
Autor:
Peters, M., Wisniewski, J. P., Williams, B. F., Lomax, J. R., Choi, Y., Durbin, M., Johnson, L. C., Lewis, A. R., Lutz, J., Sigut, T. A. A., Wallach, A., Dalcanton, J. J.
We present results from a 2-epoch HST H$\alpha$ emission line survey of the Andromeda Galaxy that overlaps the footprint of the Panchromatic Hubble Andromeda Treasury (PHAT) survey. We find 552 (542) classical Be stars and 8429 (8556) normal B-type s
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1912.05627
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2021 126
Autor:
de Boutray, M. ⁎, Kün-Darbois, J.-D., Sigaux, N., Lutz, J.-C., Veyssiere, A., Sesque, A., Savoldelli, C., Dakpe, S., Bertin, H., Lallemant, B., Llobet, A., du Cailar, M., Lauwers, F., Davrou, J., Foletti, J.-M.
Publikováno v:
In International Journal of Oral & Maxillofacial Surgery June 2021 50(6):750-755
Publikováno v:
In Journal of Stomatology oral and Maxillofacial Surgery November 2020 121(5):545-549
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2020 114
Publikováno v:
In Journal of Stomatology oral and Maxillofacial Surgery September 2019 120(4):289-296