Zobrazeno 1 - 10
of 90
pro vyhledávání: '"Luo Yinhong"'
Publikováno v:
Yuanzineng kexue jishu, Vol 58, Iss 5, Pp 1119-1126 (2024)
Single event transient (SET) induced by high energy single particle radiation is the main threat to space application electronic system reliability. The evaluation and measurement of SET is the key to improve the performance of radiation hardened int
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/8bd1a179ed6c4c1aaa180daaf808d2a8
Publikováno v:
In Computers & Security June 2023 129
Autor:
Chen, Zhaoqun, Chen, Wei, Luo, Yinhong, Tang, Xiaobin, Zhang, Fengqi, Hu, Yang, Guo, Xiaoqiang, Yang, Huajin, Ding, Lili
Publikováno v:
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, B 15 December 2021 509:27-33
Autor:
Peng, Cong, Chen, Wei, Luo, Yinhong, Zhang, Fengqi, Tang, Xiaobin, Wang, Zibo, Ding, Lili, Guo, Xiaoqiang
Publikováno v:
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A 21 July 2020 969
Autor:
Wang, Zibo, Chen, Wei, Yao, Zhibin, Zhang, Fengqi, Luo, Yinhong, Tang, Xiaobin, Peng, Cong, Ding, Lili, Guo, Xiaoqiang
Publikováno v:
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A 21 June 2020 966
Autor:
Wang, Zibo, Chen, Wei, Yao, Zhibin, Zhang, Fengqi, Luo, Yinhong, Tang, Xiaobin, Guo, Xiaoqiang, Ding, Lili, Peng, Cong
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability April 2020 107
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Ding, Lili, Chen, Wei, Guo, Hongxia, Wang, Tan, Chen, Rongmei, Luo, Yinhong, Zhang, Fengqi, Pan, Xiaoyu
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability February 2018 81:337-341
Autor:
Chen, Rongmei, Chen, Wei, Guo, Xiaoqiang, Shen, Chen, Zhang, Fengqi, Zheng, Lisang, Zhao, Wen, Ding, Lili, Luo, Yinhong, Guo, Hongxia, Wang, Yuanming, Liu, Yinong
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability April 2017 71:99-105
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.