Zobrazeno 1 - 10
of 6 329
pro vyhledávání: '"Low drop out"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Nanotechnology Magazine; October 2024, Vol. 18 Issue: 5 p37-46, 10p
Autor:
Zamora-Mejia, Gregorio, Gomez-Garcia, Dario Edwin, Giron-Nieto, Huber, Martinez-Castillo, Jaime, Moreno-Coria, Luis Armando, Rocha-Perez, Jose Miguel, Diaz-Sanchez, Alejandro
Publikováno v:
In Microelectronics Journal July 2020 101
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
International Journal of Electronics and Telecommunications, Vol vol. 65, Iss No 2, Pp 319-327 (2019)
A new simple design methodology which makes LDR output nearly insensitive to jumps of the load current for long times is proposed. This methodology is tested for more than 104 seconds. Our procedure leans on cross coupling of the time second derivati
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/1809c4f0b9a14d03a296e2a425b9d9b4
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
NORHAIDA BINTI MUSTAFA, FLORENCE CHOONG, MAMUN BIN IBNE REAZ, WAN IRMA IDAYU WAN MOHD NASIR, NOORFAZILA KAMAL, ABDUL MUKIT
Publikováno v:
Journal of Engineering Science and Technology, Vol 13, Iss 5, Pp 1282-1298 (2018)
In this paper, the design of a 4.5 V low drop out voltage regulator is proposed. Two-stage cascaded operational transconductance amplifier has been used as error amplifier. The two-stage amplifier is designed with body bias technique to reduce the dr
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/b717dc20f6cd4ae28239d3bfce5e16c3
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2017 76-77:92-96
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.