Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"Low damage characterization"'
Autor:
Shinichi Ogawa
Publikováno v:
AAPPS Bulletin, Vol 32, Iss 1, Pp 1-12 (2022)
Abstract This review introduces the technique of helium ion microscopy along with some unique applications of this technology in the fields of electronics and biology, as performed at the National Institute of Advanced Industrial Science and Technolo
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/469b6f7ee895419098666ae2dcd71484
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.