Zobrazeno 1 - 10
of 501
pro vyhledávání: '"Low Temperature Photoluminescence"'
Publikováno v:
Фізика і хімія твердого тіла, Vol 23, Iss 1, Pp 154-158 (2022)
CdZnTe films were grown by the method of modulated infrared laser deposition at a substrate temperature Tsub ≤ 1200C from appropriate sources on oriented single-crystal substrates Si, GaAs, InSb in the same technological conditions in one technolog
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/aa123045ce1b4b2ab3f2eff0ef63308e
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Bratek, Dominik
One of the major problems for doped silicon used for solar cells is the effect called light induced degradation, since it can reduce the absolute effciency by up to 2 %. Despite being known for over four decades the actual defect structure neither fo
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::107f83d305fb71a9050f583925e1ec3b
Publikováno v:
Moldavian Journal of the Physical Sciences, Vol 15, Iss 1-2, Pp 60-70 (2016)
Undoped and 3 at % Ag-doped ZnO thin films deposited on glass substrates by the sol– gel dip-coating technique have been studied. X-ray diffraction (XRD) measurements have revealed that the two films are polycrystalline and exhibit a ZnO hexagonal
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/b8b378c394d340bbb74771c17c5dbd75
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.