Výsledky vyhledávání - "Low, Kia Seng"

Dissertation/ Thesis

Integrated circuit reliability studies of electromigration, stressmigration and copper contamination

Autor: Low, Kia Seng

Externí odkaz: http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.323656

Zobrazit plný text záznamu

Conference

Reliability Studies of Cu using Wafer Level Joule Heated Electromigration Test.

Autor: Low, Kia Seng, O'Neill, Anthony

Publikováno v: MRS Online Proceedings Library; 1999, Vol. 564 Issue 1, p365-370, 6p

Zobrazit plný text záznamu

Conference

Electromigration Testing of via Terminated Test Structures.

Autor: Low, Kia Seng, Poetzlberger, Hans, O'Neill, Anthony

Publikováno v: MRS Online Proceedings Library; Dec1999, Vol. 563 Issue 1, p133-138, 6p

Zobrazit plný text záznamu

Conference

Evaluation of Current Ramp Test for In-Line Electromigration Test.

Autor: Low, Kia Seng, v. Glasow, Alex, Poetzlberger, Hans, O'Neill, Anthony

Publikováno v: MRS Online Proceedings Library; Dec1999, Vol. 563 Issue 1, p127-132, 6p

Zobrazit plný text záznamu

Conference

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.