Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"Look Up Table Model (LUT)"'
Autor:
Ajayan, K R
Process variability is a major challenge for the design of nano scale MOSFETs due to fundamental physical limits as well as process control limitations. As the size of the devices is scales down to improve performance, the circuit becomes more sensit
Externí odkaz:
http://etd.iisc.ernet.in/2005/3516
http://etd.iisc.ernet.in/abstracts/4383/G26726-Abs.pdf
http://etd.iisc.ernet.in/abstracts/4383/G26726-Abs.pdf
Autor:
Leder, Norbert
Diese Arbeit besch��ftigt sich mit dem Entwurf und der Modellierung von voll-digitalen Hochfrequenz-Sendern (DRFTx). Der Einsatz nichtlinearer Hochfrequenz-Modulatoren erm��glicht es Sender zu realisieren, die gleichsam hoch effizient und sof
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::81210275caaa8df67b32070a8d25ef9b