Zobrazeno 1 - 10
of 43
pro vyhledávání: '"Loke, A.L.S."'
Autor:
Doyle, B.A., Loke, A.L.S., Maheshwari, S.K., Wang, C.L., Fischette, D.M., Cooper, J.G., Aggarwal, S.K., Wee, T.T., Lackey, C.O., Kedarnath, H.S., Oshima, M.M., Talbot, G.R., Fang, E.S.
Publikováno v:
2011 IEEE Asian Solid State Circuits Conference (A-SSCC); 2011, p133-136, 4p
Publikováno v:
2010 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS); 2010, p90-93, 4p
Loopback architecture for wafer-level at-speed testing of embedded HyperTransportTM processor links.
Autor:
Loke, A.L.S., Doyle, B.A., Oshima, M.M., Williams, W.L., Lewis, R.G., Wang, C.L., Hanpachern, A., Tucker, K.M., Gurunath, P., Asada, G.C., Lackey, C.O., Wee, T.T., Fang, E.S.
Publikováno v:
2009 IEEE Custom Integrated Circuits Conference; 2009, p605-608, 4p
Autor:
Loke, A.L.S., Barnes, R.K., Wee, T.T., Oshima, M.M., Moore, C.E., Kennedy, R.R., Barnes, J.O., Zimmer, R.A., Arave, K.L., Pang, H.H.M., Cynkar, T.E., Volz, A.M., Pfiester, J.R., Martin, R.J., Miller, R.H., Hood, D.A., Motley, G.W., Rojas, E.J., Walley, T.M., Gilsdorf, M.J.
Publikováno v:
Proceedings of the IEEE 2005 Custom Integrated Circuits Conference, 2005; 2005, p553-556, 4p
Publikováno v:
1997 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings 35th Annual; 1997, p201-205, 5p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Wong, S.S., Ryu, C., Lee, H., Loke, A.L.S., Kwon, K.-W., Bhattacharya, S., Eaton, R., Faust, R., Mikkola, B., Mucha, J., Ormando, J.
Publikováno v:
Proceedings of the IEEE 1998 International Interconnect Technology Conference (Cat No98EX102); 1998, p107-109, 3p
Publikováno v:
IEEE Electron Device Letters; 1998, Vol. 19 Issue 6, p177-179, 3p
Publikováno v:
IEEE Electron Device Letters; 1996, Vol. 17 Issue 12, p549-551, 3p
Autor:
Jia Feng, Loke, A.L.S., Tin Tin Wee, Lackey, C.O., Okada, L.A., Schwan, C.T., Mantei, T., Morgan, J.H., Herden, M.M., Cooper, J.G., Zhi-Yuan Wu, Jung-Suk Goo, Xin Li, Icel, A.B., Bair, L.A., Fischette, D.M., Doyle, B.A., Fang, E.S., Leary, B.M., Krishnan, S.
Publikováno v:
2011 Symposium on VLSI Technology (VLSIT); 2011, p226-227, 2p