Zobrazeno 1 - 10
of 19
pro vyhledávání: '"Loiko, K.V."'
Autor:
Loiko, K.V., Adams, V., Tekleab, D., Winstead, B., Bo, X.-Z., Grudowski, P., Goktepeli, S., Filipiak, S., Goolsby, B., Kolagunta, V., Foisy, M.C.
Publikováno v:
2006 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes & Devices; 2006, p123-126, 4p
Autor:
Nallapati, G., Loiko, K.V.
Publikováno v:
2000 5th International Symposium on Plasma Process-Induced Damage (IEEE Cat. No.00TH8479); 2000, p61-64, 4p
Publikováno v:
Proceedings of the 1997 6th International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits; 1997, p12-16, 5p
Publikováno v:
Diffusion and Defect Data Part B: Solid State Phenomena; November 2001, Vol. 82 Issue: 1 p225-230, 6p
Publikováno v:
Diffusion and Defect Data Part B: Solid State Phenomena; November 2001, Vol. 82 Issue: 1 p219-224, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IEEE 1997 Annual Report Conference on Electrical Insulation & Dielectric Phenomena; 1997, Issue 1, p150-150, 1p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.