Zobrazeno 1 - 10
of 29
pro vyhledávání: '"Loewenstein, L.M."'
Autor:
Mertens, P.W., Bearda, T., Houssa, M., Loewenstein, L.M., Cornelissen, I., De Gendt, S., Kenis, K., Teerlinck, I., Vos, R., Meuris, M., Heyns, M.M.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 1999 48(1):199-206
Publikováno v:
International Report on Wafer Level Reliability Workshop; 1992, p117-121, 5p
Autor:
Heyns, M.M., Bearda, T., Cornelissen, I., De Gendt, S., Knotter, D.M., Loewenstein, L.M., Lux, M., Mertens, P.W., Mertens, S., Meuris, M., Schaekers, M., Snee, P., Teerlinck, I., Vos, R.
Publikováno v:
International Electron Devices Meeting 1998 Technical Digest (Cat No98CH36217); 1998, p325-328, 4p
Autor:
Mozumder, P.K., Loewenstein, L.M.
Publikováno v:
1991 Proceedings Eleventh IEEE/CHMT International Electronics Manufacturing Technology Symposium; 1991, p115-121, 7p
Publikováno v:
1993 Proceedings IEEE/SEMI International Semiconductor Manufacturing Science Symposium; 1993, p27-32, 6p
Autor:
Mozumder, P.K., Loewenstein, L.M.
Publikováno v:
IEEE Transactions on Components, Hybrids & Manufacturing Technology; 1992, Vol. 15 Issue 3, p311-316, 6p
Publikováno v:
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing; 1995, Vol. 8 Issue 1, p2-9, 8p
Autor:
Barna, G.G., Loewenstein, L.M., Robbins, R., O'Brien, S., Lane, A., White, D.D., Hanratty, M., Hosch, J., Shinn, G.B., Taylor, K., Brankner, K.
Publikováno v:
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing; 1994, Vol. 7 Issue 2, p149-158, 10p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.