Zobrazeno 1 - 10
of 23
pro vyhledávání: '"Loesing, Rainer"'
Autor:
Loesing, Rainer
LOESING, RAINER, Development of High Resolution Depth Profiling Of Ultra Shallow Dopant Implants with SIMS (under the direction of Phillip E. Russell. Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) is considered a reliable technique for precise and accurate
Externí odkaz:
http://www.lib.ncsu.edu/theses/available/etd-20010630-163154
Autor:
Mochizuki, Shogo, Loesing, Rainer, Zhu, Zhengmao, Domenicucci, Anthony G., Flaitz, Philip L., Li, Jinghong, Paruchuri, Vamsi
Publikováno v:
In Thin Solid Films 30 April 2014 557:94-100
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Nanotechnology & Microelectronics; Mar/Apr2017, Vol. 35 Issue 2, p1-11, 11p, 2 Black and White Photographs, 1 Diagram, 14 Graphs
Autor:
Siddiqui, Shahab, Min Dai, Loesing, Rainer, Kaltalioglu, Erdem, Pandey, Rajan, Sathiyanarayanan, Rajesh, De, Sandip, Raghavan, Srini, Parks, Harold
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Nanotechnology & Microelectronics; Jan/Feb2017, Vol. 35 Issue 1, p1-7, 7p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Electrochemical and Solid State Letters; January 2010, Vol. 13 Issue: 1 pH12-H15, 4p