Zobrazeno 1 - 10
of 188
pro vyhledávání: '"Loeschner, H."'
Autor:
Muehlberger, M., Boehm, M., Bergmair, I., Chouiki, M., Schoeftner, R., Kreindl, G., Kast, M., Treiblmayr, D., Glinsner, T., Miller, R., Platzgummer, E., Loeschner, H., Joechl, P., Eder-Kapl, S., Narzt, T., Lausecker, E., Fromherz, T.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering August 2011 88(8):2070-2073
Autor:
Mühlberger, M., Bergmair, I., Klukowska, A., Kolander, A., Leichtfried, H., Platzgummer, E., Loeschner, H., Ebm, Ch., Grützner, G., Schöftner, R.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2009 86(4):691-693
Publikováno v:
In Surface & Coatings Technology 2007 201(19):8437-8441
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Platzgummer, E., Biedermann, A., Langfischer, H., Eder-Kapl, S., Kuemmel, M., Cernusca, S., Loeschner, H., Lehrer, C., Frey, L., Lugstein, A., Bertagnolli, E.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2006 83(4):936-939
Autor:
Lang, W., Dineva, M., Marksteiner, M., Enzenhofer, T., Siraj, K., Peruzzi, M., Pedarnig, J.D., Bäuerle, D., Korntner, R., Cekan, E., Platzgummer, E., Loeschner, H.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2006 83(4):1495-1498
Autor:
Držı́k, M., Löschner, H., Haugeneder, E., Fallman, W., Hudek, P., Rangelow, I.W., Sarov, Y., Lalinský, T., Chlpı́k, J.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2006 83(4):1036-1042
Autor:
Hrkút, P. *, Držík, M., Mozolík, M., Kováč, P., Haščík, Š., Piller, W., Platzgumer, E., Loeschner, H.
Publikováno v:
In Vacuum 5 November 2004 76(2-3):329-333
Autor:
Hirscher, S. ∗, Kümmel, M., Kirch, O., Domke, W.-D., Wolter, A., Käsmaier, R., Buschbeck, H., Cekan, E., Chalupka, A., Chylik, A., Eder, S., Horner, C., Löschner, H., Nowak, R., Stengl, G., Windischbauer, T., Zeininger, M.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2002 61:301-307
Autor:
Hirscher, S ∗, Kaesmaier, R, Domke, W.-D, Wolter, A, Löschner, H, Cekan, E, Horner, C, Zeininger, M, Ochsenhirt, J
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2001 57:517-524