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Autor:
Löffler, Torsten.
Publikováno v:
LF.
Frankfurt (Main), Universiẗat, Diss., 2003.
Erscheinungsjahr an der Haupttitelstelle: 2003.
Erscheinungsjahr an der Haupttitelstelle: 2003.
Autor:
Löffler, Torsten.
Universiẗat, Diss., 2003--Frankfurt (Main).
Erscheinungsjahr an der Haupttitelstelle: 2003.
Erscheinungsjahr an der Haupttitelstelle: 2003.
Autor:
Kreß, Markus1 m.kress@physik.uni-frankfurt.de, Löffler, Torsten1, Thomson, Mark D.1, Dörner, Reinhard2, Gimpel, Hartmut3, Zrost, Karl3, Ergler, Thorsten3, Moshammer, Robert3, Morgner, Uwe3,4, Ullrich, Joachim3, Roskos, Hartmut G.1
Publikováno v:
Nature Physics. Jun2006, Vol. 2 Issue 5, p327-331. 5p. 1 Diagram, 4 Graphs.
Autor:
Löffler, Torsten
Die opto-elektronische Erzeugung intensiver Terahertz-Pulse unter Verwendung von Verstärkerlaser-Systemen stellt eine leistungsfähige und im wissenschaftlichen Umfeld etablierte Technik dar. Es ist anzunehmen, dass diese Technik in Zukunft auch fü
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______603::330102d3bb57358b1516d98a5c213a71
http://publikationen.ub.uni-frankfurt.de/frontdoor/index/index/docId/5258
http://publikationen.ub.uni-frankfurt.de/frontdoor/index/index/docId/5258
Autor:
Krozer, Viktor1,2 Krozer@physik.uni-frankfurt.de, Löffler, Torsten3 TL@synview.com, Dall, Jørgen4,5 jd@space.dtu.dk, Kusk, Anders4,5, Eichhorn, Finn6, Olsson, Rasmus Kjelsmark6, Due Buron, Jonas6, Uhd Jepsen, Peter6 puje@fotonik.dtu.dk, Zhurbenko, Vitaliy4,7 vk@elektro.dtu.dk, Jensen, Thomas7
Publikováno v:
IEEE Transactions on Microwave Theory & Techniques. Jul2010, Vol. 58 Issue 7, p2027-2039. 13p.
Publikováno v:
Proceedings of the IEEE; Aug2007, Vol. 95 Issue 8, p1576-1582, 7p, 6 Diagrams, 1 Graph
Autor:
Löffler, Torsten, Quast, Holger
Publikováno v:
Technisches Messen; June 2010, Vol. 77 Issue: 6 p349-352, 4p
Autor:
Meng, Fanzhen, Thomson, Mark D., Blank, Volker, von Spiegel, Wolff, Löffler, Torsten, Roskos, Hartmut G.
Publikováno v:
Applied Optics; September 2009, Vol. 48 Issue: 27 p5197-5204, 8p
Publikováno v:
Technisches Messen; January 2008, Vol. 75 Issue: 1 p45-50, 6p