Zobrazeno 1 - 10
of 28
pro vyhledávání: '"Llibre, J.F."'
Publikováno v:
In Thin Solid Films 2003 427(1):340-344
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2003 43(9):1531-1535
Autor:
Toutah, H., Tala-Ighil, B., Llibre, J.F., Rahal, A., Mourgues, K., Helen, Y., Mohammed-Brahim, T. *, Dassow, R., Köhler, J.R.
Publikováno v:
In Thin Solid Films 15 February 2001 383(1-2):299-302
Autor:
Toutah, H., Llibre, J.F., Tala-Ighil, B., Mohammed-Brahim, T., Helen, Y., Gautier, G., Bonnaud, O.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2001 41(9):1325-1329
Autor:
Toutah, H., Llibre, J.F., Tala-Ighil, B., Mohammed-Brahim, T., Mourgues, K., Helen, Y., Raoult, F., Bonnaud, O.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability August-October 2000 40(8-10):1573-1577
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2016 XXII International Conference on Electrical Machines (ICEM); 2016, p1895-1901, 7p
Publikováno v:
Diffusion and Defect Data Part B: Solid State Phenomena; June 2003, Vol. 93 Issue: 1 p67-72, 6p
Autor:
Toutah, H., Tala-Ighil, B., Llibre, J.F., Mohammed-Brahim, T., Helen, Youri, Gautier, G., Mourgues, K., Raoult, F.
Publikováno v:
Diffusion and Defect Data Part B: Solid State Phenomena; November 2001, Vol. 80 Issue: 1 p343-348, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.