Zobrazeno 1 - 8 of 8 pro vyhledávání: '"Liu, Edward W. Y."'
1
Conference
Time-domain non-Monte Carlo noise simulation for nonlinear dynamic circuits with arbitrary excitations.
Autor: Demir, Alper, Liu, Edward W. Y., Sangiovanni-Vincentelli, Alberto L.
Publikováno v: Proceedings of the 1994 IEEE/ACM International Conference: Computer-aided Design; 11/ 6/1994, p598-603, 6p
Zobrazit plný text záznamu
2
Conference
Nyquist data converter testing and yield analysis using behavioral simulation.
Autor: Liu, Edward W. Y., Sangiovanni-Vincentelli, Alberto L.
Publikováno v: Proceedings of the 1993 IEEE/ACM International Conference: Computer-aided Design; 11/ 7/1993, p341-348, 8p
Zobrazit plný text záznamu
3
Conference
Behavioral simulation for noise in mixed-mode sampled-data systems.
Autor: Liu, Edward W. Y., Sangiovanni-Vincentelli, Alberto L.
Publikováno v: Proceedings of the 1992 IEEE/ACM International Conference: Computer-aided Design; 11/ 8/1992, p322-326, 5p
Zobrazit plný text záznamu
4
Conference
Analog system verification in the presence of parasitics using behavioral simulation.
Autor: Liu, Edward W. Y., Chang, Henry C., Sangiovanni-Vincentelli, Alberto L.
Publikováno v: DAC: Annual ACM/IEEE Design Automation Conference; Jul1993, p159-163, 5p
Zobrazit plný text záznamu
5
Conference
Analog system verification in the presence of parasitics using behavioral simulation.
Autor: Liu, Edward W. Y., Chang, Henry C., Sangiovanni-Vincentelli, Alberto L.
Publikováno v: Proceedings of the 30th International Design Automation Conference (July 1993); 7/1/1993, p159-163, 5p
Zobrazit plný text záznamu
6
Conference
Analog system verification in the presence of parasitics using behavioral simulation.
Autor: Liu, Edward W. Y., Chang, Henry C., Sangiovanni-Vincentelli, Alberto L.
Publikováno v: Proceedings of the 30th International Design Automation Conference; Jun1993, p159-163, 5p
Zobrazit plný text záznamu
7
Conference
Nyquist data converter testing and yield analysis using behavioral simulation.
Autor: Liu, Edward W. Y., Sangiovanni-Vincentelli, Alberto L.
Publikováno v: Proceedings of the 1993 IEEE ACM International Conference Computer-aided Design; 11/7/1993, p341-348, 8p
Zobrazit plný text záznamu
8
Conference
Nyquist data converter testing and yield analysis using behavioral simulation.
Autor: Liu, Edward W. Y., Sangiovanni-Vincentelli, Alberto L.
Publikováno v: Proceedings of the 1993 IEEE ACM International Conference Computer-aided Design; 11/7/1993, p341-348, 8p
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje