Zobrazeno 1 - 10
of 55
pro vyhledávání: '"Lin, Xijiang"'
Publikováno v:
Dans Design, Automation and Test in Europe - DATE'05, Munich : Allemagne (2005)
This paper addresses delay test for SOC devices with high frequency clock domains. A logic design for on-chip high-speed clock generation, implemented to avoid expensive test equipment, is described in detail. Techniques for on-chip clock generation,
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/0710.4763
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Li, Ran, Li, Fanglong, Wang, Yaozhong, An, Pugen, Hu, Yifan, Xu, Jidong, Zhao, Lu, Lin, Xijiang
Publikováno v:
Oral Diseases; Mar2023, Vol. 29 Issue 2, p557-562, 6p, 1 Diagram, 2 Graphs
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0bab18676e762bd78f25419c9259b140
https://doi.org/10.1201/b15549-4
https://doi.org/10.1201/b15549-4
Publikováno v:
In Oral and Maxillofacial Surgery Cases September 2018 4(3):118-123
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2016 IEEE 25th Asian Test Symposium (ATS); 2016, p132-137, 6p