Zobrazeno 1 - 10
of 22
pro vyhledávání: '"Limaye, Paresh"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Limaye, Paresh, Zhang, Wenqi
Publikováno v:
Ultra-thin Chip Technology & Applications; 2011, p185-192, 8p
Autor:
Limaye, Paresh1,2 limaye@imec.be, Vandevelde, Bart2, Labie, Riet2, Vandepitte, Dirk1, Verlinden, Bert3
Publikováno v:
IEEE Transactions on Advanced Packaging. Feb2008, Vol. 31 Issue 1, p51-57. 7p. 7 Black and White Photographs, 2 Diagrams, 2 Charts, 9 Graphs.
Autor:
Limaye, Paresh1 paresh.limaye@imec.be, Vandevelde, Bart2, Vandepitte, Dirk3, Verlinden, Bert3
Publikováno v:
Circuits Assembly. Feb2006, Vol. 17 Issue 2, p68-74. 7p. 3 Color Photographs, 3 Black and White Photographs, 3 Diagrams, 3 Charts, 4 Graphs.
Autor:
Agarwal, Rahul, Zhang, Wenqi, Limaye, Paresh, Labie, Riet, Dimcic, Biljana, Phommahaxay, Alain, Soussan, Philippe
Publikováno v:
2010 Proceedings 60th Electronic Components & Technology Conference (ECTC); 2010, p858-863, 6p
Autor:
Okoro, Chukwudi, Agarwal, Rahul, Limaye, Paresh, Vandevelde, Bart, Vandepitte, Dirk, Beyne, Eric
Publikováno v:
2010 Proceedings 60th Electronic Components & Technology Conference (ECTC); 2010, p1370-1375, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Van Steenberge, Nele1, Limaye, Paresh1 paresh.limaye@imec.be, Willems, Geert1, Vandevelde, Bart1, Schildermans, Inge2
Publikováno v:
Microelectronics Reliability. Feb2007, Vol. 47 Issue 2/3, p215-222. 8p.