Zobrazeno 1 - 3
of 3
pro vyhledávání: '"Lima, Antonio Nelcione Carvalho"'
Publikováno v:
Repositório Institucional da UFCUniversidade Federal do CearáUFC.
LIMA, A. N. C. Refinamento Rietveld das funções instrumentais e construção de figura de polos inversa. 2015. 67 f. Dissertação (Mestrado em Ciência de Materiais) – Centro de Tecnologia, Universidade Federal do Ceará, Fortaleza, 2015.
S
S
Externí odkaz:
http://www.repositorio.ufc.br/handle/riufc/18263
Publikováno v:
Repositório Institucional da Universidade Federal do Ceará (UFC)
Universidade Federal do Ceará (UFC)
instacron:UFC
Universidade Federal do Ceará (UFC)
instacron:UFC
The soft x-ray diffraction techniques were only recently explored with the advent of 3rd generation synchrotrons. In this energy range, the crystals are strongly absorbing, and the measured intensity can be described by the particular case of thick c
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3056::e53364603d97fd849697c6c4176396d1
http://www.repositorio.ufc.br/handle/riufc/56282
http://www.repositorio.ufc.br/handle/riufc/56282
Publikováno v:
Repositório Institucional da Universidade Federal do Ceará (UFC)
Universidade Federal do Ceará (UFC)
instacron:UFC
Universidade Federal do Ceará (UFC)
instacron:UFC
The powder X-ray diffraction allows direct investigation of the microstructure, and Rietveld refinement is one of the most widely used method for analyzing such data. The position of the profiles provide the network parameters, the intensity provides
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3056::1a0e8e1fcfa47bd6e8b0771588333a6e
http://www.repositorio.ufc.br/handle/riufc/18263
http://www.repositorio.ufc.br/handle/riufc/18263