Zobrazeno 1 - 4
of 4
pro vyhledávání: '"Lifantsev, Maxim"'
CPUs are becoming more complex with every generation, at both the logical and the physical levels. This potentially leads to more logic bugs and electrical defects in CPUs being overlooked during testing, which causes data corruption or other undesir
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2110.11519
Autor:
Goos, Gerhard, Hartmanis, Juris, Leeuwen, Jan, Grundy, Jim, Newey, Malcolm, Lifantsev, Maxim, Bachmair, Leo
Publikováno v:
Theorem Proving in Higher Order Logics; 1998, p277-293, 17p
Autor:
Lifantsev, Maxim, Chiueh, Tzi-cker
Publikováno v:
In Proceedings 2002 VLDB Conference 2002:382-393
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.