Zobrazeno 1 - 6
of 6
pro vyhledávání: '"Lichvár Michal"'
Autor:
Budiš Jaroslav, Krampl Werner, Kucharík Marcel, Hekel Rastislav, Goga Adrián, Sitarčík Jozef, Lichvár Michal, Smol’ak Dávid, Böhmer Miroslav, Baláž Andrej, Ďuriš František, Gazdarica Juraj, Šoltys Katarína, Turňa Ján, Radvánszky Ján, Szemes Tomáš
Publikováno v:
Journal of Integrative Bioinformatics, Vol 20, Iss 3, Pp 0021-6 (2023)
With the rapid growth of massively parallel sequencing technologies, still more laboratories are utilising sequenced DNA fragments for genomic analyses. Interpretation of sequencing data is, however, strongly dependent on bioinformatics processing, w
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/cdd1341e2cfa41c09c30b7750a7d7fcc
Autor:
Budis, Jaroslav, Krampl, Werner, Kucharik, Marcel, Hekel, Rastislav, Goga, Adrian, Lichvar, Michal, Smolak, David, Bohmer, Miroslav, Balaz, Andrej, Duris, Frantisek, Gazdarica, Juraj, Soltys, Katarina, Turna, Jan, Radvanszky, Jan, Szemes, Tomas
Background: With the rapid growth of massively parallel sequencing technologies, still more laboratories are utilizing sequenced DNA fragments for genomic analyses. Interpretation of sequencing data is, however, strongly dependent on bioinformatics p
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2106.13649
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Lichvár, Michal
There are several frauds against biometric systems (BSs) and several techniques exist to secure BSs against these frauds. One of the techniques is liveness detection. To fool fingerprint sensors, latent fingerprints, dummy fingers and wafer-thin laye
Externí odkaz:
http://www.nusl.cz/ntk/nusl-236005