Zobrazeno 1 - 10
of 458
pro vyhledávání: '"Licht, T"'
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2023 150
Autor:
Klochendler, A., Eden, A., Klar, A., Geldman, A., Arbel, A., Peretz, A., Shalom, B., Ochana, B.L., Avrahami-Tzfati, D., Neiman, D., Steinberg, D., Ben Zvi, D., Shpigel, E., Atlan, G., Klein, H., Chekroun, H., Shani, H., Hazan, I., Ansari, I., Magenheim, I., Moss, J., Magenheim, J., Peretz, L., Feigin, L., Saraby, M., Sherman, M., Bentata, M., Avital, M., Kott, M., Peyser, M., Weitz, M., Shacham, M., Grunewald, M., Sasson, N., Wallis, N., Azazmeh, N., Tzarum, N., Fridlich, O., Sher, R., Condiotti, R., Refaeli, R., Ben Ami, R., Zaken-Gallili, R., Helman, R., Ofek, S., Tzaban, S., Piyanzin, S., Anzi, S., Dagan, S., Lilenthal, S., Sido, T., Licht, T., Friehmann, T., Kaufman, Y., Pery, A., Saada, A., Dekel, A., Yeffet, A., Shaag, A., Michael-Gayego, A., Shay, E., Arbib, E., Onallah, H., Ben-Meir, K., Levinzon, L., Cohen-Daniel, L., Natan, L., Hamdan, M., Rivkin, M., Shwieki, M., Vorontsov, O., Barsuk, R., Abramovitch, R., Gutorov, R., Sirhan, S., Abdeen, S., Yachnin, Y., Daitch, Y., Ben-Ami, R., Seidel, M., Gurel-Gurevich, O., Yassour, M., Meshorer, E., Benedek, G., Fogel, I., Oiknine-Djian, E., Gertler, A., Rotstein, Z., Lavi, B., Dor, Y., Wolf, D.G., Salton, M., Drier, Y.
Publikováno v:
In Clinical Microbiology and Infection September 2020 26(9):1248-1253
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2006 46(9):1844-1847
High temperature reliability on automotive power modules verified by power cycling tests up to 150°C
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2003 43(9):1871-1876
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
69. Jahrestagung der Deutschen Gesellschaft für Neurochirurgie (DGNC), Joint Meeting mit der Mexikanischen und Kolumbianischen Gesellschaft für Neurochirurgie; 20180603-20180606; Münster; DOCV061 /20180618/
Objective: Stroke is among the principal causes of long-term disability and death worldwide. Although VEGF has been shown to promote neurovascular remodelling after ischemia, VEGF supplementation after stroke has also been shown to induce blood-brain
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::173515ee7772134791afffead60784f2