Zobrazeno 1 - 10
of 100
pro vyhledávání: '"Liang, Jiacheng"'
Large language models (LLMs) are extensively adapted for downstream applications through a process known as "customization," with fine-tuning being a common method for integrating domain-specific expertise. However, recent studies have revealed a vul
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2410.02220
Large language models (LLMs) are vulnerable when trained on datasets containing harmful content, which leads to potential jailbreaking attacks in two scenarios: the integration of harmful texts within crowdsourced data used for pre-training and direc
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2405.19358
Model extraction (ME) attacks represent one major threat to Machine-Learning-as-a-Service (MLaaS) platforms by ``stealing'' the functionality of confidential machine-learning models through querying black-box APIs. Over seven years have passed since
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2312.05386
Autor:
Bian, Weiwei, Yang, Tianshui, Deng, Jin, Ma, Yiming, Peng, Wenxiao, Wang, Suo, Jiao, Xianwei, Ma, Jiahui, Liang, Jiacheng, Jin, Jingjie, Li, Haiyan, Wu, Huaichun, Zhang, Shihong
Publikováno v:
In Gondwana Research October 2024 134:30-47
We propose OmniLytics, a blockchain-based secure data trading marketplace for machine learning applications. Utilizing OmniLytics, many distributed data owners can contribute their private data to collectively train an ML model requested by some mode
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2107.05252
Autor:
Li, Yongmei, Zheng, Fengxin, Zhong, Shiqi, Zhao, Kunlu, Liao, Hui, Liang, Jiacheng, Zheng, Qiang, Wu, Huicong, Zhang, Shifan, Cao, Ying, Wu, Ting, Pang, Jianxin
Publikováno v:
In European Journal of Pharmacology 15 May 2024 971
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2023 150
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2022 138