Zobrazeno 1 - 10
of 144
pro vyhledávání: '"Liang, C.S"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Geochimica et Cosmochimica Acta 2009 73(20):6084-6097
Publikováno v:
In Physica E: Low-dimensional Systems and Nanostructures 2003 16(3):554-557
Autor:
Zeng, B.S., Lin, S.Y., Tu, Y.K., Wu, Y.C., Stubbs, B., Liang, C.S., Yeh, T.C., Chen, T.Y., Carvalho, A.F., Lin, P.Y., Lei, W.T., Hsu, C.W., Chen, Y.W., Tseng, P.T., Chen, C.H.
Publikováno v:
Journal of Dental Research; Oct2019, Vol. 98 Issue 11, p1204-1210, 7p, 1 Diagram, 4 Graphs
Publikováno v:
Proceedings of the 11th International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits. IPFA 2004 (IEEE Cat. No.04TH8743); 2004, p29-32, 4p
Autor:
Yang, C.K., Chen, T.F., Liang, C.S., Chen, T.J., Chang, T.C., Cheng, L.W., Lin, H.S., Li, G., Wu, D.Y., Chen, J.K., Chien, S.C., Sun, S.W., Cheek, J., Michael, M., Wu, D., Fisher, P., Wristers, D.
Publikováno v:
ESSDERC '03. 33rd Conference on European Solid-State Device Research, 2003; 2003, p415-418, 4p
Autor:
Lai, L.S., Liang, C.S., Chen, P.S., Hsu, Y.M., Liu, Y.H., Tseng, Y.T., Lu, S.C., Tsai, M.-J., Liu, C.W., Rosenblad, C., Buschbaum, T., Buschbeck, M., Ramm, J.
Publikováno v:
2003 International Symposium on VLSI Technology, Systems & Applications. Proceedings of Technical Papers. (IEEE Cat. No.03TH8672); 2003, p113-116, 4p
Autor:
Pei, Z., Liang, C.S., Lai, L.S., Tseng, Y.T., Hsu, Y.M., Chen, P.S., Lu, S.C., Liu, C.M., Tsai, M.-J., Liu, C.W.
Publikováno v:
Digest. International Electron Devices Meeting; 2002, p297-300, 4p
Publikováno v:
2000 IEEE Radio Frequency Integrated Circuits (RFIC) Symposium Digest of Papers (Cat. No.00CH37096); 2000, p151-155, 5p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.