Zobrazeno 1 - 10
of 36
pro vyhledávání: '"Li, Yaosheng"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Wu, Honghui, Jiang, Xinchi, Li, Yaosheng, Dong, Yunfei, Zheng, Juanjuan, Li, Lu, Li, Ying, Wang, Jinqiang, Lin, Xianming, Zhang, Xiangnan, Zhang, Tianyuan, Gu, Zhen, Gao, Jianqing
Publikováno v:
In Nano Today April 2023 49
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Lin, Zhaoxia1 (AUTHOR), Li, Yaosheng2 (AUTHOR), Shao, Rongfeng3 (AUTHOR), Hu, Yuqing4 (AUTHOR), Gao, Han5 (AUTHOR) shiafoxogf476@163.com
Publikováno v:
World Journal of Surgical Oncology. 6/5/2021, Vol. 19 Issue 1, p1-8. 8p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IEEE Access, Vol 9, Pp 87697-87705 (2021)
In high-temperature reverse-bias test of an insulated-gate bipolar transistor module, the problem of self-heating in chip resulting from power loss arises with high frequency. To address this problem, the law of the variation in leakage current with
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::0eb3e2097f23809912cffb2e2e7e111d
https://ieeexplore.ieee.org/document/9348901/
https://ieeexplore.ieee.org/document/9348901/
Autor:
Xiong Chunlin, Tiantian Zhu, Jinkai Yu, Linqi Ruan, Yan Chen, Li Yaosheng, Tieming Chen, Jiayu Wang, Mingqi Lv
Publikováno v:
IEEE Transactions on Information Forensics and Security. 16:3312-3325
The damage caused by Advanced Persistent Threat (APT) attacks to governments and large enterprises is gradually escalating. Once an attack event is detected, forensic analysis will use the dependencies between system audit logs to rapidly locate intr
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::a8afcbe77a0650a7eb1544a394c6f859
https://doi.org/10.1109/tifs.2021.3076288
https://doi.org/10.1109/tifs.2021.3076288
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2020 17th China International Forum on Solid State Lighting & 2020 International Forum on Wide Bandgap Semiconductors China (SSLChina: IFWS).
In recent years, with the vigorous development of power electronics technology, the utilization efficiency of wind and solar energy and other renewable energy sources have been continuously improved and the scale has been continuously expanded. And t
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::71513be479062c4859df97d381cc071e
https://doi.org/10.1109/sslchinaifws51786.2020.9308786
https://doi.org/10.1109/sslchinaifws51786.2020.9308786