Výsledky vyhledávání - "Li, Nga Man"

Akademický článek

Review of shelf life evaluation methods and a physics of failure approach for shelf life estimation for electronic components

Autor: Li, Nga Man Jennifa, Das, Diganta, McCluskey, Patrick

Publikováno v: In Microelectronics Reliability August 2019 99:152-160

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Analysis of indentation measured mechanical properties on Multilayer Ceramic Capacitors (MLCCs)

Autor: Li, Nga Man, Manoharan, Subramani, Das, Diganta, McCluskey, Patrick

Publikováno v: In Microelectronics Reliability September 2018 88-90:528-533

Zobrazit plný text záznamu