Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"Li, Congbing"'
Autor:
Jiang, Richen, Li, Congbing, Yang, Mingcong, Kobayashi, Haruo, Ozawa, Yuki, Tsukiji, Nobukazu, Hirano, Mayu, Shiota, Ryoji, Hatayama, Kazumi
Publikováno v:
2016 IEEE 21st International Mixed-Signal Testing Workshop (IMSTW); 2016, p1-6, 6p
Publikováno v:
2016 IEEE 21st International Mixed-Signal Testing Workshop (IMSTW); 2016, p1-6, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Katoh, Kentaroh, Kobayashi, Yutaro, Chujo, Takeshi, Wang, Junshan, Li, Ensi, Li, Congbing, Kobayashi, Haruo
Publikováno v:
Journal of Electronic Testing; Dec2014, Vol. 30 Issue 6, p653-663, 11p
Autor:
Li, Congbing, Kobayashi, Haruo
Publikováno v:
2015 IEEE International Symposium on Radio-Frequency Integration Technology (RFIT); 2015, p178-180, 3p
Autor:
Li, Congbing, Katoh, Kentaroh, Wang, Junshan, Wu, Shu, Mohyar, Shaiful Nizam, Kobayashi, Haruo
Publikováno v:
2014 International SoC Design Conference (ISOCC); 2014, p104-105, 2p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Katoh, Kentaroh, Kobayashi, Yutaro, Chujo, Takeshi, Wang, Junshan, Li, Ensi, Li, Congbing, Kobayashi, Haruo
Publikováno v:
Journal of Electronic Testing; Aug2015, Vol. 31 Issue 4, p419-419, 1p