Zobrazeno 1 - 3
of 3
pro vyhledávání: '"Lewis E. Katz"'
Autor:
Madhav S. Phadke, Lewis E. Katz
Publikováno v:
Quality Control, Robust Design, and the Taguchi Method ISBN: 9781468414745
Small though it is, a microchip requires a large number of specifications to govern its design, manufacturing, and operation.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::93bb32200529e88911f355d0ba06b5e2
https://doi.org/10.1007/978-1-4684-1472-1_2
https://doi.org/10.1007/978-1-4684-1472-1_2
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.