Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"Leśniewska, Alicja"'
Autor:
Soulié, Jean-Philippe, Sankaran, Kiroubanand, Van Troeye, Benoit, Leśniewska, Alicja, Pedreira, Olalla Varela, Oprins, Herman, Delie, Gilles, Fleischmann, Claudia, Boakes, Lizzie, Rolin, Cédric, Ragnarsson, Lars-Åke, Croes, Kristof, Park, Seongho, Swerts, Johan, Pourtois, Geoffrey, Tőkei, Zsolt, Adelmann, Christoph
Interconnect resistance and reliability have emerged as critical factors limiting the performance of advanced CMOS circuits. With the slowdown of transistor scaling, interconnect scaling has become the primary driver of continued circuit miniaturizat
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2406.09106
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Pasquali, Mattia, Brady-Boyd, Anita, Leśniewska, Alicja, Carolan, Patrick, Conard, Thierry, O'Connor, Robert, De Gendt, Stefan, Armini, Silvia
Publikováno v:
ACS Applied Materials & Interfaces; 2/1/2023, Vol. 15 Issue 4, p6079-6091, 13p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Pasquali, Mattia, Brady-Boyd, Anita, Leśniewska, Alicja, Carolan, Patrick, Conard, Thierry, O’Connor, Robert, De Gendt, Stefan, Armini, Silvia
Publikováno v:
ACS Applied Materials & Interfaces; 20230101, Issue: Preprints