Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"Leon L. Jostad"'
Autor:
Ben Gable, Arthur D. van Rheenen, Theodore T. Weber, Leon L. Jostad, Joo-Young Kim, John H. Goebel
Publikováno v:
SPIE Proceedings.
The spectral noise characteristics of Aerojet GaAs n-JFETs have been investigated down to liquid helium temperatures. Voltage noise characterization was performed with the FET in 1) the floating gate mode, 2) the grounded gate mode to determine the l
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7c68abae60424b30ab94c15f56cfca27
https://doi.org/10.1117/12.60499
https://doi.org/10.1117/12.60499
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.