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Autor:
Lemberger, Martin, Paskaleva, Albena, Zürcher, Stefan, Bauer, Anton J., Frey, Lothar, Ryssel, Heiner
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2005 45(5):819-822
Autor:
Paskaleva, Albena, Lemberger, Martin, Zürcher, Stefan, Bauer, Anton J., Frey, Lothar, Ryssel, Heiner
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2003 43(8):1253-1257
Autor:
Paskaleva, Albena, Lemberger, Martin, Bauer, Anton J., Weinreich, Wenke, Heitmann, Johannes, Erben, Elke, Schröder, Uwe, Oberbeck, Lars
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; Sep2009, Vol. 106 Issue 5, p054107-054113, 6p, 5 Graphs
Autor:
Rommel, Mathias, Jambreck, Joachim D., Lemberger, Martin, Bauer, Anton J., Frey, Lothar, Murakami, Katsuhisa, Richter, Christoph, Weinzierl, Philipp
Using conductive atomic force microscopy (cAFM), I-V characteristics on dot-like areas can be acquired to study current conduction mechanisms or dielectric breakdown statistics on the nanoscale. However, today such I-V measurements exhibit relatively
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______610::d221d4c4c2f52c28fcfbf88006c4b13b
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/231563
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/231563
Autor:
Lemberger, Martin
Die vorliegende Arbeit befasst sich mit umfassenden Untersuchungen zur metall-organisch chemischen Gasphasenabscheidung von hoch-Epsilon Metallsilicaten der Übergangsmetalle Hafnium, Zirconium und Titan und zur physikalischen wie elektrischen Charak
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2091::0e292118c9f3facb8318de63b993cbca
https://opus4.kobv.de/opus4-fau/files/1120/MartinLembergerDissertation.pdf
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Akademický článek
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