Zobrazeno 1 - 10
of 239
pro vyhledávání: '"Lelis, A.J"'
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability February 2018 81:1-6
Autor:
Bathe, Ravi, Vispute, R.D *, Habersat, Dan, Sharma, R.P, Venkatesan, T, Scozzie, C.J, Ervin, Matt, Geil, B.R, Lelis, A.J, Dikshit, S.J, Bhattacharya, R
Publikováno v:
In Thin Solid Films 2001 398:575-580
Autor:
Akbar, Ghulam1 (AUTHOR) ghulam.akbar@unipa.it, Di Fatta, Alessio1 (AUTHOR) alessio.difatta@unipa.it, Rizzo, Giuseppe1 (AUTHOR), Ala, Guido1 (AUTHOR), Romano, Pietro1 (AUTHOR) alessio.difatta@unipa.it, Imburgia, Antonino1 (AUTHOR)
Publikováno v:
Energies (19961073). Nov2024, Vol. 17 Issue 22, p5793. 15p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Scozzie, C.J., Lelis, A.J.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 10/1/1999, Vol. 86 Issue 7, p4052, 3p, 5 Graphs
Autor:
Huang, Tianqi1 (AUTHOR) tianqih@ncepu.edu.cn, Singh, Bhanu Pratap2 (AUTHOR) tianqih@ncepu.edu.cn, Liu, Yongqian1 (AUTHOR), Norrga, Staffan2 (AUTHOR)
Publikováno v:
Energies (19961073). Jun2024, Vol. 17 Issue 11, p2557. 22p.
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2008 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report; 2008, p1-19, 19p
Publikováno v:
2008 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report; 2008, p72-76, 5p