Zobrazeno 1 - 10
of 15
pro vyhledávání: '"Lee, Tom C."'
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2004 44(3):365-380
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Yao, Shaoning, McGahay, Vincent, Angyal, Matthew S., Simon, Andrew H., Lee, Tom C., Christiansen, Cathryn, Li, Baozhen, Chen, Fen, McLaughlin, Paul S., Ogunsola, Oluwafemi O., Grunow, Stephan
Publikováno v:
MRS Online Proceedings Library; 2011, Vol. 1335 Issue 1, p1-6, 6p
Autor:
Gambino, Jeff, Cooney, Ed, Murphy, Will, Luce, Cameron, Mongeon, Steve, Lai, Ning, Zwonik, Bob, Anderson, Felix, Schutz, Laura, Lee, Tom C., McDevitt, Tom
Publikováno v:
MRS Online Proceedings Library; 2010, Vol. 1249 Issue 1, p1-6, 6p
Autor:
Gambino, Jeff, Chen, Fen, Mongeon, Steve, Pokrinchak, Phil, He, John, Lee, Tom C., Shinosky, Mike, Mosher, Dave
Publikováno v:
MRS Online Proceedings Library; 2009, Vol. 1156 Issue 1, p1-6, 6p
Publikováno v:
MRS Online Proceedings Library; 1997, Vol. 490 Issue 1, p233-238, 6p
Publikováno v:
ECS Transactions; March 2009, Vol. 18 Issue: 1 p205-211, 7p
Autor:
Christiansen, Cathryn, Chapple-Sokol, Jonathan, Coster, Michael, Hunt, Douglas, Lee, Tom C., Murphy, William, Gambino, Jeffrey, Cooney, Edward, Kemerer, Timothy, Rassel, Richard, Stamper, Tony, U'Ren, Gregory, Lariviere, Stephane, Brandon, Stephane
Publikováno v:
2014 IEEE International Reliability Physics Symposium; 2014, p2A.1.1-2A.1.5, 0p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Kwong Wai Choy1 richardchoy@cuhk.edu.hk, Kin Fai Cheung1, Fan, Dorothy S. P.1, Lam, Dennis S. C.1, Yu, Christopher B. O.1, Chi Pui Pang1, Lee, Tom C.2, Beaverson, Katherine L.2, Abramson, David H.2,3, Kwok Wai Lo4
Publikováno v:
Neoplasia. Mar2005, Vol. 7 Issue 3, p200-206. 7p. 2 Diagrams, 1 Chart, 1 Graph.