Zobrazeno 1 - 10
of 835
pro vyhledávání: '"Lee, N H"'
Publikováno v:
In British Journal of Oral & Maxillofacial Surgery February 2022 60(2):128-133
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Kahl, D., Chen, A. A., Kubono, S., Binh, D. N., Chen, J., Hashimoto, T., Hayakawa, S., Kaji, D., Kim, A., Kurihara, Y., Lee, N. H., Nishimura, S., Ohshiro, Y., nia, K. Setoodeh, Wakabayashi, Y., Yamaguchi, H.
Publikováno v:
AIP Conf.Proc.1269:424,2010
Over the past three years, we have worked on developing a well-characterized 30S radioactive beam to be used in a future experiment aiming to directly measure the 30S(alpha,p) stellar reaction rate within the Gamow window of Type I X-ray bursts.
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1010.4958
Autor:
Kahl, D., Chen, A. A., Kubono, S., Binh, D. N., Chen, J., Hashimoto, T., Hayakawa, S., Kaji, D., Kim, A., Kurihara, Y., Lee, N. H., Nishimura, S., Ohshiro, Y., nia, K. Setoodeh, Wakabayashi, Y., Yamaguchi, H.
Publikováno v:
AIP Conf.Proc.1213:208,2010
Over the past three years, we have worked on developing a well-characterized 30S radioactive beam to be used in a future experiment aiming to directly measure the 30S(alpha,p) stellar reaction rate within the Gamow window of Type I X-ray bursts. The
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1010.4928
Publikováno v:
Annals of Applied Probability 2009, Vol. 19, No. 5, 1719-1780
We consider a connection-level model of Internet congestion control, introduced by Massouli\'{e} and Roberts [Telecommunication Systems 15 (2000) 185--201], that represents the randomly varying number of flows present in a network. Here, bandwidth is
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/0910.3821
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Lee, Seonhaeng, Kim, Dongwoo, Kim, Cheolgyu, Lee, N.-H., Kim, G.-J., Lee, Chiho, Park, Jeongsoo, Kang, Bongkoo
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September-October 2012 52(9-10):1905-1908