Zobrazeno 1 - 9
of 9
pro vyhledávání: '"Lawn MA"'
Autor:
Michael Tobar, Ivanov, En, Locke, Cr, Stanwix, Pl, Hartnett, Jg, Luiten, An, Bize, S., Santarelli, G., Wolf, P., Clairon, A., Warrington, Rb, Fisk, Pth, Lawn, Ma, Wouters, Mj, Guillemot, P.
Publikováno v:
ResearcherID
Cryogenic sapphire oscillators (CSO) developed at UWA have now been in operation around the world continuously for many years. Such oscillators are essential for interrogating atomic frequency standards at the quantum limit of projection noise; other
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Bu T; Technology Innovation Center of Graphene Metrology and Standardization for State Market Regulation, National Institute of Metrology (NIM), Beijing, 100029, People's Republic of China., Gao H; Technology Innovation Center of Graphene Metrology and Standardization for State Market Regulation, National Institute of Metrology (NIM), Beijing, 100029, People's Republic of China., Yao Y; Technology Innovation Center of Graphene Metrology and Standardization for State Market Regulation, National Institute of Metrology (NIM), Beijing, 100029, People's Republic of China., Wang J; Department of Physics, China Jiliang University, Hangzhou, Zhejiang, 310018, People's Republic of China., Pollard AJ; National Physical Laboratory (NPL), Hampton Road, Teddington, TW11 0LW, United Kingdom., Legge EJ; National Physical Laboratory (NPL), Hampton Road, Teddington, TW11 0LW, United Kingdom., Clifford CA; National Physical Laboratory (NPL), Hampton Road, Teddington, TW11 0LW, United Kingdom., Delvallée A; Department of Materials Science, National Laboratory of Metrology and Testing (LNE), 29 Avenue Roger Hennequin, F-78197 Trappes, France., Ducourtieux S; Department of Materials Science, National Laboratory of Metrology and Testing (LNE), 29 Avenue Roger Hennequin, F-78197 Trappes, France., Lawn MA; National Measurement Institute Australia (NMIA), 36 Bradfield Road, Lindfield, New South Wales 2070, Australia., Babic B; National Measurement Institute Australia (NMIA), 36 Bradfield Road, Lindfield, New South Wales 2070, Australia., Coleman VA; National Measurement Institute Australia (NMIA), 36 Bradfield Road, Lindfield, New South Wales 2070, Australia., Jämting Å; National Measurement Institute Australia (NMIA), 36 Bradfield Road, Lindfield, New South Wales 2070, Australia., Zou S; Metrology Research Centre, National Research Council of Canada (NRC-CNRC), Ottawa, Ontario, K1A 0R6, Canada., Chen M; Metrology Research Centre, National Research Council of Canada (NRC-CNRC), Ottawa, Ontario, K1A 0R6, Canada., Jakubek ZJ; Metrology Research Centre, National Research Council of Canada (NRC-CNRC), Ottawa, Ontario, K1A 0R6, Canada., Iacob E; Bruno Kessler Foundation, Sensors and Devices Center, Micro Nano Facility Unit (MNF), Trento I-38123, Italy., Chanthawong N; National Institute of Metrology (Thailand) (NIMT), 3/4-5 Moo 3, Klong 5, Klong Luang, Pathumthani, Thailand., Mongkolsuttirat K; National Institute of Metrology (Thailand) (NIMT), 3/4-5 Moo 3, Klong 5, Klong Luang, Pathumthani, Thailand., Zeng G; Danmarks Nationale Metrologiinstitut (DFM), Kogle Allé 5 D-2970 Hørsholm Danmark., Almeida CM; National Institute of Metrology, Quality and Technology (INMETRO), Duque de Caxias RJ, Brazil., He BC; Center for Measurement Standards, Industrial Technology Research Institute (CMS/ITRI), Hsinchu 30011, Chinese TaiPei, People's Republic of China., Hyde L; Swinburne University of Technology, John Street, Hawthorn, VIC 3122 Australia., Ren L; Technology Innovation Center of Graphene Metrology and Standardization for State Market Regulation, National Institute of Metrology (NIM), Beijing, 100029, People's Republic of China.
Publikováno v:
Nanotechnology [Nanotechnology] 2023 Mar 16; Vol. 34 (22). Date of Electronic Publication: 2023 Mar 16.
Autor:
Tobar ME; Frequency Standards and Metrology Group, School of Physics, University of Western Australia, Crawley, WA 6009, Australia., Ivanov EN, Locke CR, Stanwix PL, Hartnett JG, Luiten AN, Warrington RB, Fisk PT, Lawn MA, Wouters MJ, Bize S, Santarelli G, Wolf P, Clairon A, Guillemot P
Publikováno v:
IEEE transactions on ultrasonics, ferroelectrics, and frequency control [IEEE Trans Ultrason Ferroelectr Freq Control] 2006 Dec; Vol. 53 (12), pp. 2386-93.
Publikováno v:
IEEE transactions on ultrasonics, ferroelectrics, and frequency control [IEEE Trans Ultrason Ferroelectr Freq Control] 1997; Vol. 44 (2), pp. 344-54.