Zobrazeno 1 - 10
of 76
pro vyhledávání: '"Lavner, Y."'
Autor:
Khatib, S., Finberg, J.P.M., Artoul, F., Lavner, Y., Mahmood, S., Tisch, U., Haick, H., Aluf, Y., Vaya, J.
Publikováno v:
In Neurochemistry International October 2014 76:82-90
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Aertsen A, Vaadia E, Abeles M, Ahissar E, Bergman H, Karmon B, Lavner Y, Margalit E, Israel Nelken, Rotter S
Publikováno v:
Europe PubMed Central
Journal für Hirnforschung
Journal für Hirnforschung
In order to gain an understanding of the processes taking place within and between neuronal assemblies, we made simultaneous recordings of spike trains from groups of up to 11 neurons in the frontal cortex of a rhesus monkey, that was trained to perf
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=pmid_dedup__::ca636d54a051754904357dc7ba5fbb61
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/1821420
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/1821420
Publikováno v:
2010 IEEE 26th Convention of Electrical & Electronics Engineers in Israel (IEEEI); 2010, p000771-000775, 5p
Autor:
Frid, A., Lavner, Y.
Publikováno v:
2010 IEEE 26th Convention of Electrical & Electronics Engineers in Israel (IEEEI); 2010, p000751-000755, 5p