Zobrazeno 1 - 10 of 60 pro vyhledávání: '"Lauderdale, M."'
1
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
2
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
3
Conference
A versatile defectivity monitor designed for efficient test and failure analysis.
Autor: Lauderdale, M., Smith, B.
Publikováno v: 2011 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS); 2011, p25-30, 6p
Zobrazit plný text záznamu
4
Conference
Intelligent sample test using cost based methodologies.
Autor: Shumaker, J., Phillips, A., Lauderdale, M.
Publikováno v: 2003 5th International Conference on ASIC. Proceedings (IEEE Cat. No.03TH8690); 2003, p439-442, 4p
Zobrazit plný text záznamu
5
Conference
A Process for optimizing probe and final test through parameter matching.
Autor: Shumaker, J., Lauderdale, M., Shults, K.
Publikováno v: 2003 5th International Conference on ASIC. Proceedings (IEEE Cat. No.03TH8690); 2003, p431-434, 4p
Zobrazit plný text záznamu
6
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
7
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje