Zobrazeno 1 - 10
of 214
pro vyhledávání: '"Lassalle, B"'
Autor:
Rueff, J. -P., Ablett, J. M., Céolin, D., Prieur, D., Moreno, Th., Balédent, V., Lassalle, B., Rault, J. E., Simon, M., Shukla, A.
Publikováno v:
Journal of Synchrotron Radiation 22, 175-179 (2015)
The GALAXIES beamline at the SOLEIL synchrotron is dedicated to inelastic x-ray scattering (IXS) and photoelectron spectroscopy (HAXPES) in the 2.3-12 keV hard x-ray range. These two techniques offer powerful, complementary methods of characterizatio
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1806.04058
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
8. Journées Scientifiques et Techniques du Réseau des Microscopistes de l'INRA
8. Journées Scientifiques et Techniques du Réseau des Microscopistes de l'INRA, Nov 2018, Theix, France., 2018
8. Journées Scientifiques et Techniques du Réseau des Microscopistes de l'INRA, Nov 2018, Theix, France. 2018
2018; 8. Journées Scientifiques et Techniques du Réseau des Microscopistes de l'INRA, Theix, FRA, 2018-11-21-2018-11-23
8. Journées Scientifiques et Techniques du Réseau des Microscopistes de l'INRA, Nov 2018, Theix, France., 2018
8. Journées Scientifiques et Techniques du Réseau des Microscopistes de l'INRA, Nov 2018, Theix, France. 2018
2018; 8. Journées Scientifiques et Techniques du Réseau des Microscopistes de l'INRA, Theix, FRA, 2018-11-21-2018-11-23
National audience
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::4e1151642005333a3fe8d166f52aecd6
https://hal.inrae.fr/hal-02735064/document
https://hal.inrae.fr/hal-02735064/document
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
RIVARD, Camille, Vantelon, Delphine, Trcera, N, Lassalle, B, Roy, D, Lagarde, Pierre, Leclercq, N, Amenc, Laurie, Benlahrech, Samia, Teffahi, Mustapha, Trives, Carlos, Drevon, Jean-Jacques, Plassard, Claude
Publikováno v:
7. Journées Scientifiques et Techniques du réseau des microscopistes, Jouy en Josas, FRA, 2016-11-02-2016-11-04
7. Journées Scientifiques et Techniques du réseau des microscopistes
7. Journées Scientifiques et Techniques du réseau des microscopistes, Nov 2016, Jouy en Josas, France. pp.1, 2016
7. Journées Scientifiques et Techniques du réseau des microscopistes
7. Journées Scientifiques et Techniques du réseau des microscopistes, Nov 2016, Jouy en Josas, France. pp.1, 2016
National audience; La fluorescence X est une technique permettant de déterminer la composition élémentaire d’un échantillon. En travaillant avec un faisceau de rayon X focalisé et en déplaçant l’échantillon par rapport au faisceau, des ca
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::6f8f1a1e1312afb16fa7618f7f2eb879
http://prodinra.inra.fr/record/377622
http://prodinra.inra.fr/record/377622
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.