Zobrazeno 1 - 10
of 49
pro vyhledávání: '"Lardé, Rodrigue"'
Autor:
Klaes, Benjamin, Larde, Rodrigue, Delaroche, Fabien, Parviainen, Stefan, Rolland, Nicolas, Katnagallu, Shyam, Gault, Baptiste, Vurpillot, François
This article presents a numerical model dedicated to the simulation of field ion microscopy (FIM). FIM was the first technique to image individual atoms on the surface of a material. By a careful control of the field evaporation of the atoms from the
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1911.08352
Autor:
Klaes, Benjamin, Lardé, Rodrigue, Delaroche, Fabien, Parviainen, Stefan, Rolland, Nicolas, Katnagallu, Shyam, Gault, Baptiste, Vurpillot, François
Publikováno v:
In Computer Physics Communications March 2021 260
Autor:
Bran, Julien, Jean, Malick, Lardé, Rodrigue, Sauvage, Xavier, Breton, Jean-Marie Le, Morin-Grognet, Sandrine, Pautrat, Alain
Publikováno v:
In Journal of Alloys and Compounds 25 May 2014 596:118-124
Autor:
Maât, Nicolas, Lardé, Rodrigue, Nachbaur, Virginie, Le Breton, Jean-Marie, Isnard, Olivier, Pop, Viorel, Chicinaş, Ionel
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 2018, Vol. 124 Issue 22, pN.PAG-N.PAG, 9p, 4 Diagrams, 1 Chart, 8 Graphs
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Klaes, Benjamin, Renaux, Jeoffrey, Lardé, Rodrigue, Delaroche, Fabien, Morgado, Felipe F., Stephenson, Leigh T., Gault, Baptiste, Vurpillot, François
Publikováno v:
Microscopy & Microanalysis; Aug2022, Vol. 28 Issue 4, p1280-1288, 9p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Amirifar, Nooshin, Lardé, Rodrigue, Talbot, Etienne, Pareige, Philippe, Rigutti, Lorenzo, Mancini, Lorenzo, Houard, Jonathan, Castro, Celia, Sallet, Vincent, Zehani, Emir, Hassani, Said, Sartel, Corine, Ziani, Ahmed, Portier, Xavier
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 2015, Vol. 118 Issue 21, p215703-1-215703-10, 10p, 3 Diagrams, 2 Charts, 6 Graphs
Autor:
Gourbilleau Fabrice, Grandidier Bruno, Stiévenard Didier, Roussel Manuel, Chen Wanghua, Talbot Etienne, Lardé Rodrigue, Cadel Emmanuel, Pareige Philippe
Publikováno v:
Nanoscale Research Letters, Vol 6, Iss 1, p 271 (2011)
Abstract In this study, we have performed nanoscale characterization of Si-clusters and Si-nanowires with a laser-assisted tomographic atom probe. Intrinsic and p-type silicon nanowires (SiNWs) are elaborated by chemical vapor deposition method using
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/a8d2a1cb0d324c9687ff793b315c1388
Publikováno v:
ACS Sustainable Chemistry & Engineering
ACS Sustainable Chemistry & Engineering, 2016, 4 (12), pp.6455-6462. ⟨10.1021/acssuschemeng.6b01226⟩
ACS Sustainable Chemistry & Engineering, American Chemical Society, 2016, 4 (12), pp.6455-6462. ⟨10.1021/acssuschemeng.6b01226⟩
ACS Sustainable Chemistry & Engineering, 2016, 4 (12), pp.6455-6462. ⟨10.1021/acssuschemeng.6b01226⟩
ACS Sustainable Chemistry & Engineering, American Chemical Society, 2016, 4 (12), pp.6455-6462. ⟨10.1021/acssuschemeng.6b01226⟩
International audience
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::249c66de2ca16417efb40214fee53cd6
https://hal.science/hal-01954231
https://hal.science/hal-01954231